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電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測試裝置技術(shù)規(guī)范

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電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測試裝置技術(shù)規(guī)范技 術(shù) 參 數(shù):
本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
外形尺寸:L670 X W380 X H220
儀器重量:70kg
電 壓:AC220V±5%
功 率:35W
測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期:1~9999次
扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°,總扭曲角度30°
長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊小位移量為2mm±0.50mm,
短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊小位移量為1mm±0.50mm,
夾具安裝尺寸*按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
 
電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測試裝置技術(shù)規(guī)范產(chǎn)品用途:
   用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

 

 

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